研究级红外显微镜JX-26C

红外物镜可用于透过硅材料成像，进行半导体检查和测量。配备

了5倍到50倍红外（IR）物镜，提供了从可见光波长到近红外

的像差校正。对于高放大倍率的物镜，配备了带校正环的物镜，校正由样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获取清晰的图像。

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序号	名称	技术参数
01		JX-26C
02	平场目镜	大视野WF10X(Φ22mm)、
03	观察方式	明场
04	物镜种类	明场半复红外物镜
05	物镜倍数	5X、10、20X、50X（物镜波段：400-1300nm）
06	总放大倍数	50倍-500倍
07	观察头	三目，铰链式30°倾斜可360°旋转
08	转换器	五孔(内向式滚珠内定位)
09	粗调调焦范围	粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm.
10	载物台	机械式载物台外形尺寸：185mmX140mm，移动范围：横向35mm，纵向:30mm
11	光瞳距离	53-75mm
12	滤色片	蓝、磨砂
14	落射照明系统	220V输入 3瓦高亮LED冷光源, 亮度可调
14	落射照明系统	内置视场光栏、孔径光栏、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置，推拉式起偏振器
15	成像系统	33万相素红外相机可用于拍照测量录像红外波段：900nm-1700nm
16	仪器重量	净重：20KG 占地约2个平方

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