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DIC导电粒子显微镜工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察, DIC观察等功能，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件检测。产品透镜及外形封装全部为韩国进口。
序号 | 项目 | 技术参数 |
1. | 观察方式 | 相机电脑成像 |
2. | 相机 | 230万高速相机 |
3. | 物镜 | 采用奥林巴斯DIC物镜 |
4. | 偏光装置 | 采用徕卡偏光装置 |
5. | 微分干涉装置 | 采用徕卡技术，使成像更清晰 |
6. | 光源 | 3.4瓦LED高亮照明 |
7. | 物镜成像距离 | 10mm |
8. | 尺寸 | 370mm*170mm*100mm |
现场图片展示：
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联系地址：北京市海淀区上地信息路信息产业三街
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